มอก. 60749 เล่ม 5-2567
อุปกรณ์สารกึ่งตัวนำ - วิธีทดสอบทางกลและภาวะอากาศ เล่ม 5 การทดสอบอายุไบอัสที่อุณหภูมิและความชื้นสภาวะคงที่
SEMICONDUCTOR DEVICES - MECHANICAL AND CLIMATIC TEST METHODS - PART 5: STEADY-STATE TEMPERATURE HUMIDITY BIAS LIFE TEST
ขอบข่ายมาตรฐาน
- กำหนดขึ้นโดยรับ IEC 60749-5 edition 3.0 (2023-12) Semiconductor devices – Mechanical and climatic test methods – Part 5: Steady-state temperature humidity bias life test มาใช้ โดยวิธีพิมพ์ซ้ำ (reprinting) ในระดับเหมือนกันทุกประการ (identical) โดยใช้ IEC ฉบับภาษาอังกฤษเป็นหลัก - กำหนดการทดสอบอายุไบอัส (bias) ที่อุณหภูมิและความชื้นสภาวะคงที่(steady-state) ในการประเมินความน่าเชื่อถือของอุปกรณ์สารกึ่งตัวนำ ในบรรจุภัณฑ์ปิดไม่แน่น (non-hermaric packages) ในภาวะแวดล้อมชื้น - วิธีทดสอบนี้ถือเป็นแบบทำลาย
คำถามที่พบบ่อยเกี่ยวกับ มอก. 60749 เล่ม 5-2567
มอก. 60749 เล่ม 5-2567 เป็นมาตรฐานบังคับหรือไม่?
เป็นมาตรฐานทั่วไป (สมัครใจ) - ผู้ผลิตสามารถขอการรับรองมาตรฐานได้โดยสมัครใจ เพื่อสร้างความน่าเชื่อถือให้กับผลิตภัณฑ์
มอก. 60749 เล่ม 5-2567 ครอบคลุมอะไรบ้าง?
- กำหนดขึ้นโดยรับ IEC 60749-5 edition 3.0 (2023-12) Semiconductor devices – Mechanical and climatic test methods – Part 5: Steady-state temperature humidity bias life test มาใช้ โดยวิธีพิมพ์ซ้ำ (reprinting) ในระดับเหมือนกันทุกประการ (identical) โดยใช้ IEC ฉบับภาษาอังกฤษเป็นหลัก - กำหนดการทดสอบอายุไบ...
วิธีตรวจสอบผลิตภัณฑ์
- ดูเครื่องหมาย มอก. บนผลิตภัณฑ์หรือบรรจุภัณฑ์
- ตรวจสอบเลข มอก. ว่าตรงกับประเภทสินค้า
- ดูชื่อผู้ผลิตหรือผู้นำเข้าที่ระบุบนฉลาก
- สามารถตรวจสอบรายชื่อผู้ได้รับใบอนุญาตได้ที่ appdb.tisi.go.th