มอก. 60749 เล่ม 41-2567

ขอบข่ายมาตรฐาน

- กำหนดขึ้นโดยรับ IEC 60749-41 Edition 1.0 (2020-07) Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 41: Standard reliability testing methods of non-volatile memory devices มาใช้โดยวิธีพิมพ์ซ้ำ (reprinting) ในระดับเหมือนกันทุกประการ (identical) โดยใช้ IEC ฉบับภาษาอังกฤษเป็นหลัก - ระบุข้อกำหนดตามขั้นตอนสำหรับการทดสอบความทนทาน การเก็บรักษา และการทดสอบข้ามอุณหภูมิที่ถูกต้องตามข้อกำหนดคุณสมบัติ ข้อกำหนดด้านคุณสมบัติความทนทานและการเก็บรักษา (สำหรับการนับรอบ ระยะเวลา อุณหภูมิ และขนาดตัวอย่าง) ระบุไว้ใน JESD 47 หรือพัฒนาโดยใช้วิธีบนความรู้พื้นฐาน (knowledge-based) เช่น ใน JESD94