มอก. 60749 เล่ม 4-2567
อุปกรณ์สารกึ่งตัวนำ - วิธีทดสอบทางกลและภาวะอากาศ เล่ม 4 ความร้อนชื้น สถานะคงที่ การทดสอบความเค้นเร่งสูง (HAST)
SEMICONDUCTOR DEVICES - MECHANICAL AND CLIMATIC TEST METHODS - PART 4: DAMP HEAT, STEADY STATE, HIGHLY ACCELERATED STRESS TEST (HAST)
ขอบข่ายมาตรฐาน
- กำหนดขึ้นโดยรับ IEC 60749-4 edition 2.0 (2017-03) Semiconductor devices – Mechanical and climatic test methods – Part 4: Damp heat, steady state, highly accelerated stress test (HAST) มาใช้ โดยวิธีพิมพ์ซ้ำ (reprinting) ในระดับเหมือนกันทุกประการ (identical) โดยใช้ IEC ฉบับภาษาอังกฤษเป็นหลัก - กำหนดการทดสอบความเค้นที่ความเร่งว่าด้วยอุณหภูมิและความชื้น (HAST) เพื่อวัตถุประสงค์ในการประเมินความน่าเชื่อถือของอุปกรณ์ สารกึ่งตัวนำในบรรจุภัณฑ์ปิดไม่แน่น (non-hermaric packages) ในภาวะแวดล้อมชื้น
คำถามที่พบบ่อยเกี่ยวกับ มอก. 60749 เล่ม 4-2567
มอก. 60749 เล่ม 4-2567 เป็นมาตรฐานบังคับหรือไม่?
เป็นมาตรฐานทั่วไป (สมัครใจ) - ผู้ผลิตสามารถขอการรับรองมาตรฐานได้โดยสมัครใจ เพื่อสร้างความน่าเชื่อถือให้กับผลิตภัณฑ์
มอก. 60749 เล่ม 4-2567 ครอบคลุมอะไรบ้าง?
- กำหนดขึ้นโดยรับ IEC 60749-4 edition 2.0 (2017-03) Semiconductor devices – Mechanical and climatic test methods – Part 4: Damp heat, steady state, highly accelerated stress test (HAST) มาใช้ โดยวิธีพิมพ์ซ้ำ (reprinting) ในระดับเหมือนกันทุกประการ (identical) โดยใช้ IEC ฉบับภาษาอังกฤษเป็นหลัก - กำหนด...
วิธีตรวจสอบผลิตภัณฑ์
- ดูเครื่องหมาย มอก. บนผลิตภัณฑ์หรือบรรจุภัณฑ์
- ตรวจสอบเลข มอก. ว่าตรงกับประเภทสินค้า
- ดูชื่อผู้ผลิตหรือผู้นำเข้าที่ระบุบนฉลาก
- สามารถตรวจสอบรายชื่อผู้ได้รับใบอนุญาตได้ที่ appdb.tisi.go.th