มอก. 60749 เล่ม 35-2567
อุปกรณ์สารกึ่งตัวนำ - วิธีทดส��บ��างกลและภาวะอากาศ เล่ม 35 กล้องจุลทรรศน์อะคูสติกสำหรับส่วนประกอบอิเล็กทรอนิกส์ที่ห่อหุ้มด้วยพลาสติก
SEMICONDUCTOR DEVICES - MECHANICAL AND CLIMATIC TEST METHODS - PART 35: ACOUSTIC MICROSCOPY FOR PLASTIC ENCAPSULATED ELECTRONIC COMPONENTS
ขอบข่ายมาตรฐาน
- กำหนดขึ้นโดยรับ IEC 60749-35 Edition 1.0 (2006-07) Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 35: Acoustic microscopy for plastic encapsulated electronic components มาใช้โดยวิธีพิมพ์ซ้ำ (reprinting) ในระดับเหมือนกันทุกประการ (identical) โดยใช้ IEC ฉบับภาษาอังกฤษเป็นหลัก - ระบุขั้นตอนการตรวจสอบด้วยกล้องจุลทรรศน์อะคูสติกบนส่วนประกอบอิเล็กทรอนิกส์ที่ห่อหุ้มด้วยพลาสติก มาตรฐานผลิตภัณฑ์อุตสาหกรรมนี้ ให้แนวทางในการใช้กล้องจุลทรรศน์อะคูสติกเพื่อตรวจจับความผิดปกติ (เช่น การหลุดลอก รอยแตก ช่องว่างจากสารอัดแบบ (mould-compound) ) ที่ทําซ้ำได้และไม่ทำลายบรรจุภัณฑ์พลาสติก
คำถามที่พบบ่อยเกี่ยวกับ มอก. 60749 เล่ม 35-2567
มอก. 60749 เล่ม 35-2567 เป็นมาตรฐานบังคับหรือไม่?
เป็นมาตรฐานทั่วไป (สมัครใจ) - ผู้ผลิตสามารถขอการรับรองมาตรฐานได้โดยสมัครใจ เพื่อสร้างความน่าเชื่อถือให้กับผลิตภัณฑ์
มอก. 60749 เล่ม 35-2567 ครอบคลุมอะไรบ้าง?
- กำหนดขึ้นโดยรับ IEC 60749-35 Edition 1.0 (2006-07) Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 35: Acoustic microscopy for plastic encapsulated electronic components มาใช้โดยวิธีพิมพ์ซ้ำ (reprinting) ในระดับเหมือนกันทุกประการ (identical) โดยใช้ IEC ฉบับภาษาอังกฤษเป็นหลัก - ...
วิธีตรวจสอบผลิตภัณฑ์
- ดูเครื่องหมาย มอก. บนผลิตภัณฑ์หรือบรรจุภัณฑ์
- ตรวจสอบเลข มอก. ว่าตรงกับประเภทสินค้า
- ดูชื่อผู้ผลิตหรือผู้นำเข้าที่ระบุบนฉลาก
- สามารถตรวจสอบรายชื่อผู้ได้รับใบอนุญาตได้ที่ appdb.tisi.go.th