มอก. 60749 เล่ม 33-2567

ขอบข่ายมาตรฐาน

- กำหนดขึ้นโดยรับ IEC 60749-33 Edition 1.0 (2004-03) Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 33: Accelerated moisture resistance - Unbiased autoclave มาใช้โดยวิธีพิมพ์ซ้ำ (reprinting) ในระดับเหมือนกันทุกประการ (identical) โดยใช้ IEC ฉบับภาษาอังกฤษเป็นหลัก - การทดสอบหม้อนึ่งอัดไอน้ำที่เป็นกลาง (unbias) ใช้ประเมินความสมบูรณ์ความต้านทานความชื้นของอุปกรณ์สารกึ่งตัวนำ (solid-state device) ที่บรรจุหีบห่อแบบไม่สนิทโดยใช้สภาพความชื้นควบแน่นหรือไอน้ำอิ่มตัวสูง เป็นการทดสอบด้วยความเร่งสูงซึ่งใช้สภาวะของความดัน ความชื้น และอุณหภูมิภายใต้ภาวการณ์ควบแน่นเพื่อเร่งการซึมผ่านของความชื้น ผ่านวัสดุป้องกันภายนอก (ห่อหุ้มหรือปิดผนึก) หรือตามผิวหน้าระหว่างวัสดุป้องกันภายนอกและตัวนำโลหะที่ผ่านไป การทดสอบนี้ใช้ระบุกลไก ความล้มเหลวของบรรจุภัณฑ์และเป็นการทดสอบแบบทำลาย