มอก. 60749 เล่ม 31-2567
อุปกรณ์สารกึ่งตัวนำ - วิธีทดสอบทางกลและภาวะอากาศ เล่ม 31 ความไวไฟของอุปกรณ์ที่มีการห่อหุ้มด้วยพลาสติก (ที่เกิดจากภายใน)
SEMICONDUCTOR DEVICES - MECHANICAL AND CLIMATIC TEST METHODS - PART 31: FLAMMABILITY OF PLASTIC-ENCAPSULATED DEVICES (INTERNALLY INDUCED)
ขอบข่ายมาตรฐาน
- กำหนดขึ้นโดยรับ IEC 60749-31 Edition 1.0 (2002-08) Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 31: Flammability of plastic-encapsulated devices (internally induced) มาใช้โดยวิธีพิมพ์ซ้ำ (reprinting) ในระดับเหมือนกันทุกประการ (identical) โดยใช้ IEC ฉบับภาษาอังกฤษเป็นหลัก - ใช้กับอุปกรณ์สารกึ่งตัวนำ (ทั้งอุปกรณ์ไม่รวมหน่วยและวงจรรวม) - วัตถุประสงค์ของมาตรฐานผลิตภัณฑ์อุตสาหกรรม���ี���เพื่อตรวจสอบการติดไฟของอุปกรณ์จากการให้ความร้อนภายในที่เกิดจากการโหลดเกินขนาด หมายเหตุ การทดสอบนี้เทียบเท่ากับวิธีทดสอบที่ระบุในข้อ 1.1 ของเล่ม 4 ของ IEC 60749 (1996) หากไม่มีการเปลี่ยนแปลงในข้อดังกล่าว การเพิ่มเติมหัวเรื่องของข้อ 2 และ ข้อ 3 และการเปลี่ยนสารบัญหัวข้อ
คำถามที่พบบ่อยเกี่ยวกับ มอก. 60749 เล่ม 31-2567
มอก. 60749 เล่ม 31-2567 เป็นมาตรฐานบังคับหรือไม่?
เป็นมาตรฐานทั่วไป (สมัครใจ) - ผู้ผลิตสามารถขอการรับรองมาตรฐานได้โดยสมัครใจ เพื่อสร้างความน่าเชื่อถือให้กับผลิตภัณฑ์
มอก. 60749 เล่ม 31-2567 ครอบคลุมอะไรบ้าง?
- กำหนดขึ้นโดยรับ IEC 60749-31 Edition 1.0 (2002-08) Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 31: Flammability of plastic-encapsulated devices (internally induced) มาใช้โดยวิธีพิมพ์ซ้ำ (reprinting) ในระดับเหมือนกันทุกประการ (identical) โดยใช้ IEC ฉบับภาษาอังกฤษเป็นหลัก - ใ...
วิธีตรวจสอบผลิตภัณฑ์
- ดูเครื่องหมาย มอก. บนผลิตภัณฑ์หรือบรรจุภัณฑ์
- ตรวจสอบเลข มอก. ว่าตรงกับประเภทสินค้า
- ดูชื่อผู้ผลิตหรือผู้นำเข้าที่ระบุบนฉลาก
- สามารถตรวจสอบรายชื่อผู้ได้รับใบอนุญาตได้ที่ appdb.tisi.go.th