มอก. 60749 เล่ม 3-2567
อุปกรณ์สารกึ่งตัวนำ - วิธีทดสอบทางกลและภาวะอากาศ เล่ม 3 การตรวจพินิจภายนอก
SEMICONDUCTOR DEVICES - MECHANICAL AND CLIMATIC TEST METHODS - PART 3: EXTERNAL VISUAL EXAMINATION
ขอบข่ายมาตรฐาน
- กำหนดขึ้นโดยรับ IEC 60749-3 edition 2.0 (2017-03) Semiconductor devices – Mechanical and climatic test methods – Part 3: External visual examination มาใช้โดยวิธีพิมพ์ซ้ำ (reprinting) ในระดับเหมือนกันทุกประการ (identical) โดยใช้ IEC ฉบับภาษาอังกฤษเป็นหลัก - วัตถุประสงค์ของมาตรฐานผลิตภัณฑ์อุตสาหกรรมนี้ เพื่อใช้ทวนสอบว่าวัสดุ การออก��บบ โครงสร้าง การทำเครื่องหมาย และการทำงานของอุปกรณ์ สารกึ่งตัวนำเป็นไปตามที่กำหนดในเอกสารจัดซื้อจัดจ้างที่ใช้ การตรวจพินิจภายนอกเป็นการทดสอบแบบไม่ทำลายและเหมาะสมกับทุกประเภท บรรจุภัณฑ์ การทดสอบนี้เป็นประโยชน์สำหรับการตรวจสอบคุณสมบัติ การตรวจติดตามกระบวนการ การยอมรับรุ่นการผลิต
คำถามที่พบบ่อยเกี่ยวกับ มอก. 60749 เล่ม 3-2567
มอก. 60749 เล่ม 3-2567 เป็นมาตรฐานบังคับหรือไม่?
เป็นมาตรฐานทั่วไป (สมัครใจ) - ผู้ผลิตสามารถขอการรับรองมาตรฐานได้โดยสมัครใจ เพื่อสร้างความน่าเชื่อถือให้กับผลิตภัณฑ์
มอก. 60749 เล่ม 3-2567 ครอบคลุมอะไรบ้าง?
- กำหนดขึ้นโดยรับ IEC 60749-3 edition 2.0 (2017-03) Semiconductor devices – Mechanical and climatic test methods – Part 3: External visual examination มาใช้โดยวิธีพิมพ์ซ้ำ (reprinting) ในระดับเหมือนกันทุกประการ (identical) โดยใช้ IEC ฉบับภาษาอังกฤษเป็นหลัก - วัตถุประสงค์ของมาตรฐานผลิตภัณฑ์อุตสาหกรรม...
วิธีตรวจสอบผลิตภัณฑ์
- ดูเครื่องหมาย มอก. บนผลิตภัณฑ์หรือบรรจุภัณฑ์
- ตรวจสอบเลข มอก. ว่าตรงกับประเภทสินค้า
- ดูชื่อผู้ผลิตหรือผู้นำเข้าที่ระบุบนฉลาก
- สามารถตรวจสอบรายชื่อผู้ได้รับใบอนุญาตได้ที่ appdb.tisi.go.th