มอก. 60749 เล่ม 28-2567

ขอบข่ายมาตรฐาน

- กำหนดขึ้นโดยรับ IEC 60749-28 Edition 2.0 (2022-03) Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 28: Electrostatic discharge (ESD) sensitivity testing - Charged device model (CDM) - device level มาใช้โดยวิธีพิมพ์ซ้ำ (reprinting) ในระดับเหมือนกันทุกประการ (identical) โดยใช้ IEC ฉบับภาษาอังกฤษเป็นหลัก - กำหนดขั้นตอนสำหรับการทดสอบ การประเมินผล และการจัดประเภทอุปกรณ์และวงจรไมโครตามความละเอียดอ่อน (ความไว) ของอุปกรณ์นั้น ต่อความเสียหายหรือการเสื่อมสภาพโดยการรับการปล่อยประจุไฟฟ้าสถิต (electrostatic discharge : ESD) กับแบบจำลองอุปกรณ์ที่มีประจุ (charged device model : CDM) โดยการเหนี่ยวนำสนามไฟฟ้า ที่กำหนดไว้ อุปกรณ์สารกึ่งตัวนำที่บรรจุในบรรจุภัณฑ์ทั้งหมด, วงจรฟิล์มบาง, อุปกรณ์คลื่นเสียงพื้นผิว (surface acoustic wave : SAW), อุปกรณ์แสงอิเล็กทรอนิกส์, วงจรรวมไฮบริด (hybrid integrated circuits : HICs) และโมดูลหลายชิป (multi-chip modules : MCMs) ที่มีอุปกรณ์เหล่านี้ต้องได้รับการประเมินตามมาตรฐานผลิตภัณฑ์อุตสาหกรรมนี้ ในการ ทำการทดสอบจะประกอบอุปกรณ์เป็นชุดเช่นเดียวกับในลักษณะการใช้งานสุดท้าย CDM ในมาตรฐานผลิตภัณฑ์อุตสาหกรรมนี้ไม่ใช้กับเครื่องทดสอบแบบจำลองการปล่อยประจุมีซ็อกเก็ต (socketed discharge model tester) มาตรฐานผลิตภัณฑ์อุตสาหกรรมนี้อธิบายวิธีเหนี่ยวนำสนาม (field-induced : FI) สำหรับสัมผัสโดยตรง (direct contact : DC) เป็นวิธีทางเลือกอธิบายในภาคผนวก J - วัตถุประสงค์ของมาตรฐานผลิตภัณฑ์อุตสาหกรรมนี้ใช้กำหนดวิธีทดสอบ ที่สามารถทำซ้ำความล้มเหลวแบบ CDM และให้ผลทดสอบ CDM ESD ที่เชื่อถือได้และทำซ้ำได้จากเครื่องทดสอบทุกเครื่อง โดยไม่คำนึงถึงประเภทของอุปกรณ์ ข้อมูลที่ทำซ้ำได้จะช่วยให้การจำแนกประเภทและ การเปรียบเทียบระดับความไวต่อ CDM ESD อย่างแม่นยำ