มอก. 60749 เล่ม 24-2567

ขอบข่ายมาตรฐาน

- กำหนดขึ้นโดยรับ IEC 60749-24 Edition 1.0 (2004-03) Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 24: Accelerated moisture resistance - Unbiased HAST มาใช้โดยวิธีพิมพ์ซ้ำ (reprinting) ในระดับเหมือนกันทุกประการ (identical) โดยใช้ IEC ฉบับภาษาอังกฤษเป็นหลัก - การดำเนินการเร่งสูงการทดสอบความเครียดที่เร่งสูงแบบไม่ไบอัส (highly accelerated stress testing : HAST) เพื่อประเมินความเชื่อถือได้ของอุปกรณ์สารกึ่งตัวนำ (solid-state device) ที่ไม่ได้บรรจุใน ลักษณะปิดสนิทแน่นในสภาพแวดล้อมที่มีความชื้น - การทดสอบเป็นการเร่งสูงที่ใช้ทั้งผลของอุณหภูมิและความชื้นในสภาวะ ที่ไม่เกิดการควบแน่น เพื่อเร่งการซึมผ่านของความชื้นผ่านวัสดุป้องกัน จากภายนอก (การห่อหุ้มหรือการปิดสนิท) หรือ ระหว่า���ว���สดุป้องกันภายนอกกับตัวนำโลหะที่ผ่านมัน การทดสอบนี้จะไม่ไบอัสเพื่อให้มั่นใจว่าสามารถค้นพบกลไกความล้มเหลวที่อาจไม่พบโดยไบอัส (เช่น การกัดกร่อน ทางไฟฟ้า) - การทดสอบนี้ใช้เพื่อระบุกลไกความล้มเหลวภายในบรรจุภัณฑ์และ เป็นการทดสอบแบบทำลาย หมายเหตุ การทดสอบนี้เป็นการเขียนใหม่ทั้งหมดจากการทดสอบที่ระบุ ในข้อ 4C ของเล่ม 3 ของ IEC 60749 (1996) (โดยไม่ไบอัส)