มอก. 60749 เล่ม 23-2567

ขอบข่ายมาตรฐาน

- กำหนดขึ้นโดยรับ IEC 60749-23 Edition 1.1 (2011-03) Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 23: High temperature operating life มาใช้โดยวิธีพิมพ์ซ้ำ (reprinting) ในระดับเหมือนกันทุกประการ (identical) โดยใช้ IEC ฉบับภาษาอังกฤษเป็นหลัก - การทดสอบนี้ใช้เพื่อหาผลกระทบของภาวะไบอัส (bias condition) และอุณหภูมิต่ออุปกรณ์อิเล็กทรอนิกส์มีสารกึ่งตัวนำ (solid state device) ในเวลาหนึ่ง โดยจะจำลองภาวะการทำงานของอุปกรณ์ในลักษณะเร่งภาวะ ซึ่งใช้เป็นหลักในการตรวจสอบคุณภาพและความเชื่อถือได้ของอุปกรณ์ รูปแบบหนึ่งของอายุไบอัสที่อุณหภูมิสูงโดยใช้ระยะเวลาสั้น ซึ่งรู้จักกันว่า 'การทดสอบอุปกรณ์ในสภาวะที่รุนแรง (burn-in)' อาจใช้เพื่อคัดกรอง ความล้มเหลวที่เกิดขึ้นในช่วงต้นของการใช้งาน (infant mortality) รายละเอียดของการใช้และการนำไปใช้งานของการทดสอบอุปกรณ์ในสภาวะที่รุนแรงอยู่นอกเหนือขอบข่ายของมาตรฐานผลิตภัณฑ์อุตสาหกรรมนี้