มอก. 60749 เล่ม 2-2567

ขอบข่ายมาตรฐาน

- กำหนดขึ้นโดยรับ IEC 60749-2 edition 1.0 (2002-04) Semiconductor devices – Mechanical and climatic test methods – Part 2: Low air pressure มาใช้โดยวิธีพิมพ์ซ้ำ (reprinting) ในระดับเหมือนกัน ทุกประการ (identical) โดยใช้ IEC ฉบับภาษาอังกฤษเป็นหลัก - ครอบคลุมการทดสอบของแรงดันอากาศต่ำกับอุปกรณ์สารกึ่งตัวนำ การทดสอบนี้เป็นจุดประสงหลักในการกำหนดความสามารถของส่วนประกอบและวัสดุในการหลีกเลี่ยงความล้มเหลวจากแรงดันไฟฟ้า เนื่องจากความเค้นไดอิเล็กทริก (dielectric strength) ของอากาศลดลงและวัสดุฉนวนอื่นที่ความดันลดลง การทดสอบนี้ใช้เฉพาะกับอุปกรณ์ที่มีแรงดันไฟฟ้าเกิน 1 000 V. - การทดสอบนี้ใช้กับอุปกรณ์สารกึ่งตัวนำที่อยู่ในบรรจุภัณฑ์แบบมีช่อง การทดสอบนี้มีจุดประสงค์ใช้งานทางทหารและที่เกี่ยวข้องกับอวกาศเท่านั้น - โดยทั่วไปการทดสอบแรงดันอากาศต่ำนี้เป็นไปตาม IEC 60068-2-13 แต่เนื่องจากข้อกำหนดเฉพาะของสารกึ่งตัวนำ ให้พิจารณาในแต่ละหัวข้อของมาตรฐานผลิตภัณฑ์อุตสาหกรรมนี้