มอก. 60749 เล่ม 18-2567

ขอบข่ายมาตรฐาน

- กำหนดขึ้นโดยรับ IEC 60749-18 Edition 2.0 (2019-04) Semiconductor devices – Mechanical and climatic test methods – Part 18: Ionizing radiation (total dose) มาใช้โดย วิธีพิมพ์ซ้ำ (reprinting) ในระดับเหมือนกันทุกประการ (identical) โดยใช้ IEC ฉบับภาษาอังกฤษเป็นหลัก - กำหนดขั้นตอนการทดสอบสำหรับนิยามข้อกำหนดการทดสอบวงจรรวม สารกึ่งตัวนำแบบบรรจุและอุปกรณ์สารกึ่งตัวนำแบบไม่รวมหน่วยสำหรับผลกระทบของรังสีก่อไอออน (ปริมาณรวม) จากแหล่งกำเนิด รังสีแกมมาโคบอลต์-60 (60Co) หรือแหล่งกำเนิดรังสีอื่น ๆ ที่เหมาะสม - มีการทดสอบ 4 วิธีในมาตรฐานผลิตภัณฑ์อุตสาหกรรมนี้ ก) การทดสอบการฉายรังสีที่อุณหภูมิห้องมาตรฐาน ข) การฉายรังสีที่การทดสอบในอุณหภูมิสูง/อุณหภูมิแช่เยือกแข็ง ค) การทดสอบเร่งการอบอ่อน ง) การทดสอบความไวต่ออัตราปริมาณรังสีต่ำที่เพิ่มขึ้น (enhanced low dose rate sensitivity (ELDRS)) - การทดสอบเร่งการอบอ่อนจะประเมินว่าอัตราปริมาณรังสีก่อไอออนส่งผลต่ออุปกรณ์มีความสำคัญสำหรับอัตราปริมาณรังสีต่ำหรือการใช้งานอื่น ๆ บางอย่างที่อุปกรณ์สามารถแสดงผลที่ขึ้นอยู่กับเวลาอย่างมีนัยสำคัญอย่างไร การทดสอบ ELDRS ใช้พิจารณาว่าอุปกรณ์ที่มีส่วนประกอบเชิงเส้นสองขั้วแสดงความไวต่อความเสียหายที่เกิดจากรังสีที่เพิ่มขึ้นในอัตราปริมาณรังสีต่ำหรือไม่ - กล่าวเฉพาะการฉายรังสีในสภาวะคงที่ (steady-state) และใช้ไม่ได้กับ การฉายรังสีแบบพัลส์ (pulse type irradiations) - การทดสอบนี้สำหรับการใช้งานที่เกี่ยวข้องกับการทหารและอวกาศ - ทำให้เกิดการเสื่อมสภาพอย่างรุนแรงของสมบัติทางไฟฟ้าของอุปกรณ์ที่ ฉายรังสี ดังนั้นจึงเป็นการทดสอบแบบทำลาย