มอก. 60749 เล่ม 17-2567

ขอบข่ายมาตรฐาน

- กำหนดขึ้นโดยรับ IEC 60749-17 Edition 2.0 (2019-03) Semiconductor devices – Mechanical and climatic test methods – Part 17: Neutron irradiation มาใช้โดยวิธีพิมพ์ซ้ำ (reprinting) ในระดับเหมือนกันทุกประการ (identical) โดยใช้ IEC ฉบับภาษาอังกฤษเป็นหลัก - การทดสอบการฉายรังสีนิวตรอนใช้พิจารณากำหนดความอ่อนไหวของอุปกรณ์สารกึ่งตัวนำต่อการเสื่อมสภาพการสูญเสียพลังงานไม่ก่อไอออน (non-ionizing energy loss (NIEL)) การทดสอบนี้ใช้ได้กับอุปกรณ์ สารกึ่งตัวนำไม่รวมหน่วยและวงจรรวม และใช้สำหรับงานที่เกี่ยวข้องกับการทหารและอวกาศ วิธีทดสอบนี้เป็นการทดสอบแบบทำลาย -วัตถุประสงค์ของการทดสอบมีดังนี้ ก) เพื่อตรวจจับและวัดการเสื่อมสภาพของพารามิเตอร์อุปกรณ์สารกึ่งตัวนำที่สำคัญตามฟังก์ชันของความคล่องแคล่วของนิวตรอน และ ข) เพื่อพิจารณาพารามิเตอร์อุปกรณ์สารกึ่งตัวนำที่ระบุอยู่ภายในขีดจํากัดที่กำหนดหรือไม่หลังจากการสัมผัสกับระดับที่ระบุความคล่องแคล่วของนิวตรอน (ดูข้อ 6)