มอก. 60749 เล่ม 12-2567
อุปกรณ์สารกึ่งตัวนำ - วิธีทดสอบทางกลและภาวะอากาศ เล่ม 12 การสั่น ความถี่ผันแปร
SEMICONDUCTOR DEVICES - MECHANICAL AND CLIMATIC TEST METHODS - PART 12: VIBRATION, VARIABLE FREQUENCY
ขอบข่ายมาตรฐาน
- กำหนดขึ้นโดยรับ IEC 60749-12 Edition 2.0 (2017-12) Semiconductor devices – Mechanical and climatic test methods – Part 12: Vibration, variable frequency มาใช้โดย วิธีพิมพ์ซ้ำ (reprinting) ในระดับเหมือนกันทุกประการ (identical) โดยใช้ IEC ฉบับภาษาอังกฤษเป็นหลัก - อธิบายการทดสอบเพื่อพิจารณาผลกระทบของการสั่นความถี่ผันแปรภายในช่วงความถี่ที่ระบุต่อองค์ประกอบโครงสร้างภายใน การทดสอบนี้ เป็นการทดสอบแบบทำลาย โดยปกติจะใช้ได้กับบรรจุภัณฑ์มีช่องอากาศ หมายเหตุ วิธีการทดสอบนี้อธิบายการทดสอบไซน์แบบกวาด (swept sine test) การทดสอบการสั่นแบบสุ่มอธิบายไว้ในมาตรฐาน JESD 22-B103 โดย องค์กรมาตรฐาน JEDEC
คำถามที่พบบ่อยเกี่ยวกับ มอก. 60749 เล่ม 12-2567
มอก. 60749 เล่ม 12-2567 เป็นมาตรฐานบังคับหรือไม่?
เป็นมาตรฐานทั่วไป (สมัครใจ) - ผู้ผลิตสามารถขอการรับรองมาตรฐานได้โดยสมัครใจ เพื่อสร้างความน่าเชื่อถือให้กับผลิตภัณฑ์
มอก. 60749 เล่ม 12-2567 ครอบคลุมอะไรบ้าง?
- กำหนดขึ้นโดยรับ IEC 60749-12 Edition 2.0 (2017-12) Semiconductor devices – Mechanical and climatic test methods – Part 12: Vibration, variable frequency มาใช้โดย วิธีพิมพ์ซ้ำ (reprinting) ในระดับเหมือนกันทุกประการ (identical) โดยใช้ IEC ฉบับภาษาอังกฤษเป็นหลัก - อธิบายการทดสอบเพื่อพิจารณาผลกระทบของ...
วิธีตรวจสอบผลิตภัณฑ์
- ดูเครื่องหมาย มอก. บนผลิตภัณฑ์หรือบรรจุภัณฑ์
- ตรวจสอบเลข มอก. ว่าตรงกับประเภทสินค้า
- ดูชื่อผู้ผลิตหรือผู้นำเข้าที่ระบุบนฉลาก
- สามารถตรวจสอบรายชื่อผู้ได้รับใบอนุญาตได้ที่ appdb.tisi.go.th