มอก. 60749 เล่ม 11-2567

ขอบข่ายมาตรฐาน

- กำหนดขึ้นโดยรับ IEC 60749-11 edition 1.0 (2002-04) Semiconductor devices – Mechanical and climatic test methods – Part 11: Rapid change of temperature - Two-fluid-bath method มาใช้โดยวิธีพิมพ์ซ้ำ (reprinting) ในระดับเหมือนกัน ทุกประการ (identical) โดยใช้ IEC ฉบับภาษาอังกฤษเป็นหลัก - กำหนดวิธีทดสอบการเปลี่ยนแปลงอุณหภูมิอย่างรวดเร็วและวิธีทดสอบด้วยอ่างควบคุมอุณหภูมิของไหล (two-fluid-bath method) เมื่อทดสอบ ทั้งสองวิธีทดสอบซึ่งใช้ตรวจสอบสมบัติของอุปกรณ์ ผลของวัฏจักร การเปลี่ยนอุณหภูมิจะมีลำดับสำคัญกว่าผลจากวิธีทดสอบด้วยอ่างควบคุมอุณหภูมิของไหล วิธีการทดสอบนี้อาจใช้ทดสอบหาผลกระทบของการแช่ในของเหลวร้อนที่ใช้ในการทำความสะอาดอุปกรณ์ได้ โดยใช้จำนวนรอบ การทดสอบน้อยลง เช่น 5-10 รอบ - การทดสอบนี้ใช้ได้กับทุกอุปกรณ์สารกึ่งตัวนำ การทดสอบนี้ถือเป็นแบบทำลายเว้นแต่มีการกำหนดรายละเอียดเป็นอย่างอื่นในข้อกำหนดที่เกี่ยวข้อง - โดยทั่วไปวิธีทดสอบการเปลี่ยนแปลงของอุณหภูมิอย่างรวดเร็วและ วิธีทดสอบด้วยอ่างควบคุมอุณหภูมิของไหล สอดคล้องตาม IEC 60068-2-14 แต่เนื่องจากเป็นข้อกำหนดเฉพาะของสารกึ่งตัวนำ ให้ปฏิบัติตามมาตรฐานผลิตภัณฑ์อุตสาหกรรมนี้