มอก. 60749 เล่ม 1-2567

ขอบข่ายมาตรฐาน

- กำหนดขึ้นโดยรับ IEC 60749-1 edition 1.0 (2002-08) Semiconductor devices – Mechanical and climatic test methods – Part 1: General มาใช้โดยวิธีพิมพ์ซ้ำ (reprinting) ในระดับเหมือนกันทุกประการ (identical) โดยใช้ IEC ฉบับภาษาอังกฤษเป็นหลัก - ใช้กับอุปกรณ์สารกึ่งตัวนำ (ทั้งอุปกรณ์ไม่รวมหน่วยและวงจรรวม) และจัดทำเป็นข้อกำหนดทั่วไปให้กับมาตรฐานเล่มอื่นทั้งหมดในอนุกรม - กรณีที่มีข้อขัดแย้งระหว่างมาตรฐานผลิตภัณฑ์อุตสาหกรรมนี้กับข้อกำหนด ที่เกี่ยวข้องกับการจัดซื้อจัดจ้าง ให้กำหนดตามข้อกำหนดที่มาทีหลัง