มาตรฐานทั่วไป
มอก. 3169-2564
นาโนเทคโนโลยี - การวัดการกระจายตัวของขนาดและรูปร่างของอนุภาคโดยเทคนิคกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบส่องผ่าน
Nanotechnologies - Measurements of particle size and shape distributions by transmission electron microscopy
วันที่บังคับใช้:
8 กันยายน 2564
ราชกิจจานุเบกษา:
ประกาศและงานทั่วไป
เล่ม 138
ตอน พิเศษ 211 ง
(8 กันยายน 2564)
ประกาศกระทรวง:
ฉบับที่ 6176
(16 มีนาคม 2564)
ขอบข่ายมาตรฐาน
มาตรฐานนี้กำหนดวิธีการถ่ายภาพ วัดขนาด และวิเคราะห์ภาพถ่ายจากเทคนิคกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบส่องผ่าน เพื่อหาการกระจายตัวของขนาดและรูปร่างของอนุภาคในระดับนาโนสเกล
Scope (English)
This standard specifies how to capture, measure and analyse transmission electron microscopy images to obtain particle size and shape distributions in the nanoscale.
คำถามที่พบบ่อยเกี่ยวกับ มอก. 3169-2564
มอก. 3169-2564 เป็นมาตรฐานบังคับหรือไม่?
เป็นมาตรฐานทั่วไป (สมัครใจ) - ผู้ผลิตสามารถขอการรับรองมาตรฐานได้โดยสมัครใจ เพื่อสร้างความน่าเชื่อถือให้กับผลิตภัณฑ์
มอก. 3169-2564 ครอบคลุมอะไรบ้าง?
มาตรฐานนี้กำหนดวิธีการถ่ายภาพ วัดขนาด และวิเคราะห์ภาพถ่ายจากเทคนิคกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบส่องผ่าน เพื่อหาการกระจายตัวของขนาดและรูปร่างของอนุภาคในระดับนาโนสเกล
วิธีตรวจสอบผลิตภัณฑ์
- ดูเครื่องหมาย มอก. บนผลิตภัณฑ์หรือบรรจุภัณฑ์
- ตรวจสอบเลข มอก. ว่าตรงกับประเภทสินค้า
- ดูชื่อผู้ผลิตหรือผู้นำเข้าที่ระบุบนฉลาก
- สามารถตรวจสอบรายชื่อผู้ได้รับใบอนุญาตได้ที่ appdb.tisi.go.th